Luận văn Bước đầu xây dựng hệ đo phổ biến điện quang phản xạ để xác định trạng thái quang điện bề mặt bán dẫn gaas
(Bản scan) Trước hết, độ rộng khe năng lượng Ef thường thừa nhận là vị trí (năng lượng) của đỉnh chính (đỉnh cao nhất) trong phổg Pr và điều này cũng được sử dụng trong các công trình của nhóm I.SCHREIBẺ [22], và cả [24]. [26], [29]. Cũng như thưeo [7], trong trường hợp kích thích trường thấp, người ta sử dụng phương pháp chính xác hơn do ASPNes...
Bạn đang xem nội dung tài liệu Luận văn Bước đầu xây dựng hệ đo phổ biến điện quang phản xạ để xác định trạng thái quang điện bề mặt bán dẫn gaas, để tải tài liệu về máy bạn click vào nút DOWNLOAD ở trên
Các file đính kèm theo tài liệu này:
5.PDF- 0_3.PDF
- 1_2.PDF
- 2.PDF
- 3.PDF
- 4_2.PDF
- 6_2.PDF
- 7.pdf
- 8.PDF
- 9.PDF
LeDoNinh.jpg
